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      漆膜介电常数介质损耗因数测试仪

      漆膜介电常数介质损耗因数测试仪

      简要描述:漆膜介电常数介质损耗因数测试仪符合标准:
      ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法;
      GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法;
      GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法;
      GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值

      更新时间:2021-05-10

      产品型号:GDAT-A

      厂商性质:生产厂家

      访问量:132

      产品详情
      品牌北广精仪价格区间1万-2万
      应用领域化工,农业,文体,能源,建材

      漆膜介电常数介质损耗因数测试仪特点:

        ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

        ◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

        ◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

        ◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

        ◎ Q值量程自动/手动量程控制。

        ◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号 源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

        ◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标AST# D150以及IEC60250规范要求。

      频率范围 10kHz~10MHz 100kHz~10MHz

        固有误差 ≤5%±满度值的2% ≤5%±满度值的2%

        工作误差 ≤7%±满度值的2% ≤7%±满度值的2%

        频率范围 10MHz~70MHz 10MHz~160MHz

        固有误差 ≤6%±满度值的2% ≤6%±满度值的2%

        工作误差 ≤8%±满度值的2% ≤8%±满度值的2%

      Q值测量

        a.Q值测量范围:2~1023;

        b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档

        介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。

        损耗因子也指耗损正切,是交流电被转化为热能的介电损耗(耗散的能量)的量度,一般情况下都期望耗损因子低些好

        概念:

        电介质在外电场作用下,其内部会有发热现象,这说明有部分电能已转化为热能耗散掉,电介质在电场作用下,在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率,或简称介质损耗(diclectric loss)。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能,而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大,甚至会引起介质的过热而绝缘破坏,所以从这种意义上讲,介质损耗越小越好。

      漆膜介电常数介质损耗因数测试仪

      影响介电性能的因素

        下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。

        1频率

        因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的,且被用作工程电介质材料,然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。

        电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生,重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.

        2温度

        损耗指数在一个频率下可以出现一个大值,这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的,这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。

        3湿度

        极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加,其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是的.

        注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内

        4电场强度

        存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。

        在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关

        测量方法的选择:

        高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。

        1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法;也就是在接人试样和不接试样两种状态下,调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作,就可采用保护电极;它没有其他网络的缺点。

        2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量,常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。

        注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的,叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。

      工作原理

        1.“Q”的定义

        Q表是根据串联谐振原理设计,以谐振电压的比值来定位Q值。

        “Q”表示元件或系统的“品质因数”,其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件(电感或电容)来说,即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。

        或 (1)

        图 一

        在图(一)所示的串联谐振电路中,所加的信号电压为Ui,频率为f,在发生谐振时

        或 (2)

        回路中电流 (3)

        故电容两端的电压

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